半导体推力测试机

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    半导体推力测试仪亦可称之为大面积推拉力试验机，可进行拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、压陷硬度、低周疲劳等各项物理力学试验。还能自动求取大试验力、断裂力、屈服HRb、抗拉强度、弯曲强度，弹性模量、伸长率、定伸长应力、定应力伸长、定应压缩等，故广泛应用于半导体封装、LED封装、智慧卡封装、通讯电子、汽车电子产业及各类研究所、大专院校、电子电路失分析与测试等领域。

    半导体推力测试机通过各种夹具的配合完成抗拉、弯曲、压缩等多种力学检测。夹具是推拉力测试机中重要的一个零件。通过夹具夹持试样对试样进行加力，夹具所能承受的试验力的大小是夹具的一个很重要的指标。它决定了夹具结构的大小及夹具操作的劳动强度的大小。推拉力测试机之所以能做各种试验其重点在于夹具的选择。

    使用原理是什么？

    力值测量：通过力传感器、放大器和数据处理系统进行测量。常用的测力传感器是变形芯片传感器。

    应变传感器是指用应变计、弹性元件和一些附件(由补偿元件、防护罩、接线插座、装载机组成)将特定的机器量转化为电能输出的装置。

    应变芯片的拉力、压力传感器在国内外各不相同。主要有圆柱力传感器、运动传感器、S双孔传感器、交叉光束传感器等。

    从材料力学可以看出，在小变形条件下，弹性元件上一点的变形与弹性元件的力成正比，与弹性变化成正比。对于S型传感器，当传感器起到张力P的作用时，弹性元件表面会附着应变计，因此弹性元件的应变率与外力P的大小成正比，所以将应变计连接到测量电路上，就可以通过测量输出电压来测量力的大小。连接计算机用于收集和分析数据，进入实验界面后，计算机会不断收集各种实验数据，实时绘制实验曲线，自动查找各实验参数和输出报告。

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